英国测试和检测设备专家 Sencon 宣布对其 Quasar II 系列 端盖光照测试仪 (ELTP) 进行升级，旨在加强食品和饮料包装金属盖生产的质量控制。
据该公司称，新一代 Quasar II 系统引入的改进包括更精确的缺陷检测、更高的检测速度和更可靠的运行。 其中一项创新是改进的 HMI 触摸界面，可实时显示故障诊断、缺陷零件计数和系统状态。
新型号还采用了照明矩阵，其 LED 数量是以前版本的七倍，从而确保均匀照明并消除可能隐藏微小缺陷的暗区。 这些改进使 Quasar II 能够以高达每分钟 5,000 个单元的速度运行，从而提高高容量生产线的生产率。
此外，该系统经过重新设计，可最大限度地减少检测头的振动，整合新一代光学器件和传感器以及更强大的内部处理器。 在实验室测试中，盖子版本（称为 ELTP）已证明能够检测到小至一微米的穿孔。
Sencon 为当前的制造商提供对其系统进行免费审核的可能性，以评估将其设备升级到 Quasar II 技术的便利性。
这些创新巩固了该公司作为金属包装行业质量控制解决方案领先供应商的地位，在该行业中，精确检测微小缺陷对于确保产品的安全性和密封性至关重要。
